超聲波探傷儀及缺陷位置和大小的表示方式有三種方式:A掃描、B掃描、C掃描,其中市面上大多數(shù)缺陷判定方式的是A掃描,也是目前工業(yè)超聲探傷中的主流探測手段。
(1)A掃描來源于英文單詞Amplitude,即幅值的意思,也即顯示器的橫坐標(biāo)是超聲波在被檢測材料中的傳播時間或者傳播距離,縱坐標(biāo)是超聲波反射波的幅值。
基于A掃的缺陷判定方式,當(dāng)在一個鋼工件中存在一個缺陷,由于這個缺陷的存在,造成了缺陷和鋼材料之間形成了一個不同介質(zhì)之間的交界面,交界面之間的聲阻抗不同,當(dāng)發(fā)射的超聲波遇到這個界面之后,就會發(fā)生反射,反射回來的能量又被探頭接受到,在顯示屏幕中橫坐標(biāo)的一定的位置就會顯示出來一個反射波的波形,橫坐標(biāo)的這個位置就是缺陷在被檢測材料中的深度。這個反射波的高度和形狀因不同的缺陷而不同,反映了缺陷的性質(zhì)。如圖1所示為缺陷的A掃描判定方式。
圖1 A掃描顯示方式
(2)B掃描來源于英文單詞birightness,亮度的意思 ,掃描圖像以二維圖像顯示,屏幕顯示的是與聲速傳播方向平行且與工件的測量表面垂直的剖面。其亮度信息,則是通過計算反射回來的超聲波的強(qiáng)弱來確定。如圖2所示為B掃描顯示方式。
圖2 B掃描顯示方式
(3)C掃描來源于英文Constant depth,意思是恒定的深度,是對某一深度的截面進(jìn)行掃描,是二維平面內(nèi)移動并選取A掃描特定深度的點(diǎn)的信號成像,顯示的是水平截面的缺陷信息。如圖3所示為C掃描顯示方式。
圖3 C掃描顯示方式
上面所有的掃描方式放在一個示意圖中可以表示為圖3的更加形象的方式
圖4 超聲A、B、C掃描顯示方式
A掃描顯示方式即顯示器的橫坐標(biāo)是超聲波在被檢測材料中的傳播時間或者傳播距離,縱坐標(biāo)是超聲波反射波的幅值。 在一個鋼工件中存在一個缺陷,由于這個缺陷的存在,造成了缺陷和鋼材料之間形成了一個不同介質(zhì)之間的交界面,交界面之間的聲阻抗不同,當(dāng)發(fā)射的超聲波遇到這個界面之后,就會發(fā)生反射,反射回來的能量又被探·頭接受到,在顯示屏幕中橫坐標(biāo)的一定的位置就會顯示出來一個反射波的波形,橫坐標(biāo)的這個位置就是缺陷在被檢測材料中的深度。這個反射波的高度和形狀因不同的缺陷而不同,反映了缺陷的性質(zhì)。
B掃描方式在掃描圖像以二維圖像顯示,屏幕顯示的是與聲速傳播方向平行且與工件的測量表面垂直的剖面。
C掃描就是三維成像掃描,掃描結(jié)果為工件的橫斷面。
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